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Einzelheiten zu den Produkten

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Mischsignal-Oszilloskop
Created with Pixso. R&S RTO1014 Digital-Oszilloskop mit 1 GHz Bandbreite, 4 Kanälen und 10 Gsample/s Abtastrate

R&S RTO1014 Digital-Oszilloskop mit 1 GHz Bandbreite, 4 Kanälen und 10 Gsample/s Abtastrate

Markenbezeichnung: Rohde & Schwarz
Modellnummer: RTO1014
MOQ: 1 Einheit
Preis: Contact Us for Pricing
Lieferzeit: 3-7 Arbeitstage nach Zahlung
Zahlungsbedingungen: AGB, L/C, PayPal
Einzelheiten
Herkunftsort:
Deutschland
Zertifizierung:
CE
Typ:
Digitales Oszilloskop
Bandbreite:
1 Gigahertz
Kanäle:
4
Probenrate:
10 Gsample/s
Speichertiefe:
20 Msample (Standard), 50 Msample (optional)
Vertikale Entschließung:
8-Bit
Anzeige:
12,1-Zoll-XGA-Touchscreen
Wellenformfangrate:
Bis zu 1.000.000 Wellenformen/s
Zustand:
Gebraucht, vollständig getestet
Verpackung Informationen:
Antistatischer Schaumstoff mit exporttauglichem Wellkarton
Versorgungsmaterial-Fähigkeit:
Auf Lager, Versandfertig
Hervorheben:

1 GHz Digital-Oszilloskop

,

4-Kanal-Oszilloskop

,

10 Gsample/s Abtastrate

Beschreibung des Produkts
R&S RTO1014 Digitales Oszilloskop 1 GHz Bandbreite 4 Kanäle 10 GSample/s Sample Rate
Produktübersicht

Das Rohde & Schwarz RTO1014 ist ein leistungsstarkes digitales Oszilloskop mit 1 GHz Bandbreite, 4 Kanälen und 10 Gsample/s Probenrate.tiefes Gedächtnis und ein großes 12.1-Zoll-Touchscreen, ideal für die Hochgeschwindigkeits-Signalanalyse und das Embedded-Design-Debugging.

Wesentliche Merkmale
  • Bandbreite von 1 GHz auf 4 Kanälen
  • 10 GProbezeit/s Probezeit auf allen Kanälen
  • 20 Msample Speichertiefe (50 Msample optional)
  • Volldigitales Auslösersystem
  • 12.1-Zoll-XGA-Touchscreen-Display
  • hohe Wellenformfangrate von bis zu 1,000,000 Wellenformen/s
Technische Spezifikation
Parameter Spezifikation
Typ Digitales Oszilloskop
Bandbreite 1 GHz
Kanäle 4
Stichprobenquote 10 GProbe/s
Speichertiefe 20 Proben (Standard), 50 Proben (optional)
Vertikale Auflösung 8 Bit
Anzeige 12.1-Zoll-XGA-Touchscreen
Wellenformfangrate Bis zu 1,000,000 Wellenformen/s
Anwendungen
  • Hochgeschwindigkeitssignalanalyse
  • Eingebettete Entwurfsdebugging
  • Leistungselektronikprüfung
  • Forschung und Entwicklung für allgemeine Zwecke und Herstellungsprüfung