Das TDS6604-Oszilloskop ist eine leistungsstarke Lösung zur Verifizierung, Debug und Charakterisierung von hochentwickelten elektronischen Konstruktionen.Betriebsfreundlichkeit und offene Anbindung an die KonstruktionsumgebungDie klassischen Analogsteuerungen, ein großes berührungsempfindliches Display und grafische Menüs bieten eine intuitive Steuerung.Der offene Zugriff auf das Windows-Betriebssystem ermöglicht eine beispiellose Anpassung und Erweiterbarkeit.

Mit einer Bandbreite von 6 GHz und einer Probenrate von 20 GS/s auf 2 Kanälen oder einer Probenrate von 10 GS/s auf 4 Kanälen gleichzeitig liefert der TDS6604 unvergleichliche Messungen der Signalintegrität.Hochleistungs-Jitter-Analyse auf 1.5 psRMS wird durch außergewöhnliche Auslöser- und Akquisitionsleistung und angewandte Software erreicht.

Die TDS6604-Lösungen für den Zugriff auf Signal mit hoher Bandbreite umfassen die P7260 6 GHz-Einzel-Aktiv und die P7330 3,5 GHz-Differentialsonde.Kleine Formfaktoren und eine Vielzahl von Spitzenzubehör sorgen für die WirksamkeitDarüber hinaus umfasst der TDS6604 das TekConnect Signal-Verbindungssystem.Diese Schnittstelle ersetzt traditionelle BNC-Eingabeanschlüsse durch eine bequeme Schnittstelle mit positiver Sperrung, die für höhere Systembandbreiten geeignet ist. Die Sonden der P7000-Serie sind direkt mit TekConnect kompatibel, zusammen mit Adaptern, die SMA-, BNC-, N- und 1 Megohm-BNC-Eingangsanschlüsse bereitstellen.

Eigenschaften:

• 6 GHz-Bandbreite zur Aufnahme der schnellsten Signale in modernsten Digitalmodellen
• 20 GS/s Probenahmerate auf 1 oder 2 Kanälen
• 10 GS/s Probenerhöhung auf 3 oder 4 Kanälen
• Jittermessungen auf 1,5 psRMS
• Analyse und Konnektivitätsfunktionalität
• Graphische Benutzeroberfläche
• Steuerung über klassische Direktsteuerungen, berührungsempfindliche Farbbildschirme oder Maus
• Öffnen Sie die Windows-Umgebung
• Eingebettete Netzwerke