Agilent 86105C 20 GHz Bandbreite optisch-elektrisches Plug-In-Modul mit 750-1650 nm Wellenlängenbereich für Augendiagrammanalyse

Der Agilent 86105C ist ein leistungsstarkes Dual-Channel-Plug-in-Modul, das für die 86100-Serie Digital Communications Analyzer (DCA) -Mainframes entwickelt wurde.Es bietet sowohl einen optischen als auch einen elektrischen 20 GHz-Kanal in einem einzigen Modul, die eine umfassende optische und elektrische Wellenformcharakterisierung für mehrstufige Kommunikationsprüfungen bis 11,3 Gb/s und darüber hinaus ermöglicht.

Mit einem kalibrierten optischen Referenzempfänger, der Wellenlängen von 750 bis 1650 nm abdeckt, unterstützt der 86105C Glasfaserkanal, Ethernet, SONET/SDH und andere Hochgeschwindigkeitskommunikationsstandards.Das Modul liefert eine genaue Analyse des Augendiagramms, Messungen des Auslöschverhältnisses, Jitter-Analysen und Optical Modulation Amplitude (OMA) -Tests, die für die Überprüfung der Konformität des Empfängers unerlässlich sind.

• 20 GHz optischer Kanalmit einem kalibrierten Referenzempfänger für eine genaue optische Wellenformanalyse
• 20 GHz elektrischer Kanalmit einer Breite von mehr als 20 mm,
• 750-1650 nm Wellenlängenbereichmit einer Breite von mehr als 20 mm,
• Gefilterte optische Bandbreitefür die Prüfung der Konformität von SONET/SDH, Fiber Channel, Gigabit Ethernet und 10 GbE
• Integrierter optisch-elektrischer Wandlermit kalibrierter Reaktionsfähigkeit
• 2.4 mm männlicher elektrischer EingangAnschluss an den elektrischen Kanal
• Kompatibel mit 86100A/B/C/DDCA-Mainframes für die vollständige Wellenformanalyse
• AugendiagrammanalyseEinschließlich Aussterbungsquote, Augenhöhe, Augenbreite und Jittermessungen
• Optische Modulationsamplitude (OMA)Messungen nach IEEE 802.3ae-Normen
• Maskenprüfungmit eingebauten Masken nach Industriestandards
• Interne Kalibrierungfür eine konstante, wiederholbare Messgenauigkeit
• Skala nach obenmit einer Breite von mehr als 10 mm,

• Validierung der Konstruktion und Konformitätsprüfung optischer Transceiver
• Augendiagramm und Jitteranalyse für serielle Hochgeschwindigkeitsverbindungen
• Charakterisierung der optischen Faserkomponenten (Laser, Modulatoren, Empfänger)
• Versuchsverfahren für mehrstufige Kommunikationssysteme bis zu 11,3 Gb/s
• Produktionstests optischer und elektrischer Module
• Forschung und Entwicklung für optische Netzwerkgeräte der nächsten Generation

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