| Markenbezeichnung: | Keithley |
| Modellnummer: | 6517B |
| MOQ: | 1 Stück |
| Preis: | Verhandlungsfähig |
| Lieferzeit: | 5–10 Werktage für Lagerware, 30–45 Tage für Werkskalibrierung |
| Zahlungsbedingungen: | T/T, L/C, Paypal, Western Union |
DieKeithley 6517B Elektrometer/Hochwiderstandsmesserist der weltweite Forschungslaborstandard für sensible Niedrigstandsmessungen.Dieses Gerät liefert eine beispiellose Genauigkeit für aktuelle, Spannungs-, Widerstands- und Ladungsmessungen in anspruchsvollen Forschungs- und Industrieanwendungen.
| Funktion | Reichweite | Entschließung |
|---|---|---|
| Strom (Ammeter) | 10 bis 20 mA | 10 aA |
| Spannung (Voltmeter) | 1 μV bis 200 V | 1 μV |
| Widerstand (Ohmmeter) | 1 Ω bis 1018 Ω | 1 Ω |
| Ladung (Coulombmeter) | 1 fC bis 2 μC | 1 fC |
Der 6517B verwendet dieAlternative Polarität MethodeDies bedeutet, daß die Auswirkungen von Hintergrundströmen in der Probe praktisch eliminiert werden.Das Gerät wendet eine Spannung mit positiver Polarität anDer Widerstand wird auf der Grundlage eines gewichteten Durchschnitts der vier letzten Strommessungen berechnet.die eine hohe Wiederholgenauigkeit erzeugen, genaue Widerstandswerte.
In Kombination mit8009 Widerstandsprüfungsanlageund dieKickStart-Anwendung mit hohem Widerstand, stellt die 6517B eine vollständige, ASTM D257-konforme Messlösung für Volumen- und Oberflächenwiderstandsprüfungen von Isoliermaterialien dar.Das System unterstützt Prüfspannungen bis 1000 V und Widerstandsmessungen bis 1018 Ω-cm..
GPIBundEinheitliche Datenbank (RS232)Schnittstellen für Fernbedienung und Datenerfassung.6521 Niedrigstrom-Scannerkarte(10-Kanal, BNC) und6522 Spannungs-/Niedrigstrom-Scannerkarte(10-Kanal, Triax) für die Automatisierung von Mehrpunktprüfungen verfügbar.
In Tausenden von Forschungsarbeiten auf der ganzen Welt erwähnt, the Keithley 6517B combines decades of low-level measurement expertise into an instrument that operates as simply as a digital multimeter while delivering the sensitivity required for cutting-edge research in physics, Optik, Nanotechnologie und Materialwissenschaften.
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