Optischer Spektrumanalysator 50GHz Ando AQ6317B

Beschreibung von Ando AQ6317B

Das AQ6317B ist ein moderner optischer Spektrumanalysator für eine breite Palette von Anwendungen, einschließlich Lichtquellebewertung, Maß von Verlustwellenlängeneigenschaften in den optischen Geräten und Wellenformanalyse von Systemen Verdrahtungshandbuchs (Wellenlängen-Abteilungs-Mehrkanalausrüstung).

Besonders am C-Band und am L-Band, erzielt die Einheit hohe Wellenlängengenauigkeit und Wellenlängenlinearitäten und kann optische Geräte für Verdrahtungshandbuch auswerten. Analysefunktionen machen die Operation und Ausdehnbarkeit einfach.

Das AQ6317B enthält die späteste Ando-Technologie für optische Spektrumanalysatoren. Eine Bezugsausrüstung für die nächste Generation.

Im Vergleich zu dem ehemaligen Modell ist die Wellenlängengenauigkeit des AQ6317B zu ±20 P.M. verbessert worden, und es wird als für das L-Band auch spezifiziert. Verdrahtungshandbuch-Analysefunktions- und Kerbenbreitenanalysefunktionen werden verbessert, und Mehrkanal-Funktion der Ns-Düngunganalysefunktion und der Analyse des optischen Filters werden eben addiert. Zu verwenden ist viel geworden einfacher, mit anderen Verbesserungen, wie Schleife zu beschleunigen.

Eigenschaften:

• Breite Dynamikwerte für 50 Gigahertz-Verdrahtungshandbuch-Signale: Die Dynamikwerte sind 70 DB an Höchst- ±0.4 Nanometer und DB 60 an Höchst-±0.2 Nanometer.
• Hochauflösendes Maß erzielt breite Dynamikwerte mit 50 Gigahertz-Abstand Verdrahtungshandbuch-System.
• Hohe Wellenlängengenauigkeit: Stellt Wellenlängengenauigkeit ±0.02 Nanometer bei 1520 bis 1580 Nanometer und ±0.04 Nanometer bei 1580 bis 1620 Nanometer zur Verfügung, wenn die Wellenlängenlinearitäten ±0.01 Nanometer, machen, es, besonders nützlich für Hochpräzisionsverlust-Wellenlängeneigenschaften und andere Bewertung von Verdrahtungshandbuch-Geräten.
• Die Wellenlängenskala zeigt beide in einer Luft und im Vakuum an.
• Hohe Wellenlängenentschließung: Erzielt Wellenlängenentschließung von 0,015 Nanometer.
• Vielseitige Analysefunktionen: Analysefunktionen für Verdrahtungshandbuch und andere optische Geräte (LD, LED, FBG, etc.)
• Synchrone Schleife: In Verbindung mit einer Quelle des abstimmbaren Lasers AQ4321 viel höher können Wellenlängenentschließung/breite Dynamikwerte durch synchrone Hochgeschwindigkeitsschleife erzielt werden
• Hohe Empfindlichkeit: Hohe Empfindlichkeit erlaubt das Maß des Lichtes an unten zu dBm -90 und umfasst von 1200 bis 1650 Nanometer.
• Niedrige Polarisationsabhängigkeit: Maße wie Gewinn des optischen Verstärkers können genau fortgefahren werden, weil Polarisationsabhängigkeit so niedrig als DB ±0.05 unterdrückt wird.
• Hochrangige Genauigkeit: Genau innerhalb DBs ±0.3.
• Maß der hohen Leistung: Maximum +20 dBm (100 mW)
• Sogar kann starker Ertrag von einem optischen Verstärker direkt ohne einen optischen Abschwächer gemessen werden.
• 9.4 Zoll Farbe LCD
• Pulsiertes Licht kann gemessen werden
• Drei einzelne Spurngedächtnisse

Spezifikationen:

• Anwendbare Fasern: SMF, GI (50/125 µm)
• MaßWellenlängenbereich: 600 bis 1750 Nanometer)
• Wellenlängengenauigkeit: ±0.02 Nanometer (1520 bis 1580 Nanometer, nach Kalibrierung mit eingebauter Bezugslichtquelle); ±0.04 Nanometer (1580 bis 1620 Nanometer, nach Kalibrierung mit eingebauter Bezugslichtquelle); ±0.5 Nanometer (600 bis 1750 Nanometer)
• Wellenlängenlinearitäten: ±0.01 Nanometer (1520 bis 1580 Nanometer); ±0.02 Nanometer (1580 bis 1620 Nanometer)
• Wellenlängenwiederholbarkeit: ±0.005 Nanometer (1 Minute)
• Wellenlängenentschließung: Max. Entschließung: 0,015 Nanometer oder besser (1520 bis 1620 Nanometer, Entschließungseinstellung: 0,01 Nanometer)
• Entschließungseinstellung: 0,01, 0,02, 0,05, 0,1, 0,2, 0,5, 1,0, 2,0 Nanometer
• Entschließungsgenauigkeit: ± 5%: (1300 bis 1650 Nanometer, Entschließung: 0,05 Nanometer oder mehr, Entschließungskorrektur: AUF)
• Waagerecht ausgerichtete Strecke des Maßes: -90 bis dBm +20 (1200 bis 1650 Nanometer, Empfindlichkeit: HIGH3); -80 bis dBm +20 (1000 bis 1200 Nanometer, Empfindlichkeit: HIGH3); -60 bis dBm +20 (600 bis 1000 Nanometer, Empfindlichkeit: HIGH3)
• Waagerecht ausgerichtete Genauigkeit 2, 3) DB ±0.3 (1310/1550 Nanometer, Input: -30 dBm, Empfindlichkeit: HIGH1-3)
• Waagerecht ausgerichtete Linearitäten: DB ±0.05 (Input: +10 bis -50 dBm, Empfindlichkeit: HIGH1-3)
• Waagerecht ausgerichtete Flachheit: DB ±0.1 (1520 bis 1580 Nanometer), DB ±0.2 (1580 bis 1620 Nanometer)
• Polarisationsabhängigkeit: DB ±0.05 (1550/1600 Nanometer), Art DB-±0.05. (1310 Nanometer)
• Dynamikwerte: DB 60 (1523 Nanometer, Höchst-±0.2 Nanometer, Entschließung: 0,01 Nanometer); DB 70 (1523 Nanometer, Höchst-±0.4 Nanometer, Entschließung: 0,01 Nanometer); DB 45 (1523 Nanometer, Höchst-±0.2 Nanometer, Entschließung: 0,1 Nanometer)
• Schleifenzeit: Frau ca. 500 (Spanne: 100 Nanometer oder kleiner, Empfindlichkeit: NORM, GRIFF, avg.: 1, 501 Proben, Entschließungskorrektur: WEG); Ca. 0,5 Minute (Spanne: 100 Nanometer oder kleiner, Empfindlichkeit: HIGH2, avg: 1, 501 Proben, kein Signal)

Funktion:

• Automatisches Maß: Programmfunktion (20 Programm, 200 Schritte), Langzeitmessungsfunktion
• Einstellung von Messbedingungen: Spanneneinstellung: 0 bis 1200 Nanometer
• Messempfindlichkeitseinstellung: NORMALES HOLD/AUTO, MITTLER, HIGH1/2/3
• Zahl der Mittelwertbildung der Einstellung: 1 bis 1000mal
• Probehefteinstellung: 11 bis 20001, AUTO
• Automatische Einstellungsfunktion von Messbedingungen
• Schleife-zwischen-Markierungsfunktion
• 0 Nanometer-Schleifenfunktion
• Impulslicht-Maßfunktion
• Luft/Vakuumwellenlängenmaßfunktion
• TLS synchronisierte Maßfunktion

Spurnanzeige:

• Waagerecht ausgerichtete Skaleneinstellung: 0,1 bis 10 dB/div, linear
• Simultane Anzeige von 3 unabhängigen Spuren
• Max./min. Griffanzeige
• Rolle, die der Anzeige berechnet
• Berechnung-zwischen-Spurnanzeige
• Normalisierte Anzeige
• Kurvenanpassungsanzeige
• Anzeige 3D
• Aufgeteilte Anzeige
• Energiedichteanzeige, % der Anzeige, dB-/kmanzeige
• Frequenzanzeige der horizontalen Achsenskala

Datenanalyse:

• Verdrahtungshandbuch-Wellenformanalyse (Listenanzeige der Wellenlänge/Level/SNR), Verstärkeranalyse (multi Kanal GAIN/NF, einzelnen/aus optischen Fasern), PMD-Analyse, Analyse des optischen Filters, DFB-LD Analyse, FP-LD Analyse, LED-Analyse, SMSR-Analyse, Höchstsuche, untere Suche, Spektralbreitensuche, Kerbenbreitensuche
• Deltamarkierung (Maximum 200), Linie Markierung (Analysestreckenspezifikation)
• Diagrammanzeige des Langzeitmessungsergebnisses

Andere:

• Selbst-Wellenlängenkalibrierungsfunktion (unter Verwendung der eingebauten Bezugslichtquelle)
• Wellenlänge/waagerecht ausgerichtete Ausgleichsfunktion, Aufkleberfunktion, Hilfe-Funktionen

Gedächtnis:

• Eingebautes FDD: 3,5 Zoll 2HD
• Interner Speicher: 32 Spuren, 20 Programme
• Dateiformat: Diagnosedatei, Programmdatei, Messbedingungsdatei, Textdatei (Spur, Analysedaten, etc.), Grafiken archivieren (BMP, tiff)
• Datenausgabe: Eingebauter Schnelldrucker des Druckers

Schnittstelle:

• Fernbedienung: GP-Ib (2 Häfen); TLS-Antriebssteuerungen (TTL)
• Schleifentriggerinput (TTL)
• Probe ermöglichen Input (TTL)
• Beispieltriggerinput (TTL)
• Analogergebnis (0 bis 5 V)
• Videoausgang (VGA)

• Anzeige: 9,4-Zoll-Farbe LCD (Entschließung: 640 x 480 Punkte)
• Optikstecker: FC (Standard)
• Leistungsbedarf: Wechselstrom 100 bis 120/200 bis 240 V, 50/60 Hz

Umweltbedingungen:

• Betriebstemperatur: ºC 5 bis 40
• Lagertemperatur: ºC -10 bis +50
• Feuchtigkeit: 80% relative Feuchtigkeit oder weniger (keine Kondensation)
• Maße und Masse: Ca. 425 (W) x 222 (H) x 450 (d) Millimeter

Anwendungen:

Optische Mehrfachkopplerbewertung

In Verbindung mit der Quelle des abstimmbaren Lasers AQ4321 kann das AQ6317B hohe Wellenlängenentschließung/breite Dynamikwerte mit synchroner Schleifenhochgeschwindigkeitsfunktion erzielen, und Ergebniseinfügungsdämpfung, führte zentrale Wellenlänge und Linearitäten als Bewertungsparameter optischen MUX/DEMUX.

Bewertung des Verstärkers (EDFA) aus optischen Fasern

Die ASE-Interpolationsmethode wird angewendet, um Gewinn und N-Düngung, Schlüsselparameter zu messen für Verstärkerbewertung aus optischen Fasern.

In Verbindung mit dem optischen Verstärkeranalysator AQ8423Z kann das System Gewinn und N-Düngung mit der Impulsmethode genau messen, die für Bewertung von Verstärkern Verdrahtungshandbuchs aus optischen Fasern optimal ist.

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FAQ:
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Ja können wir. Wir senden Aufträge weltweit.
2. Welche Lieferungsmethode wenden Sie an? und Lieferfrist?
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